Weak nonlinear surface-charging effects in electrolytic films
نویسندگان
چکیده
منابع مشابه
Charging of weak polyelectrolytes
Michal Borkovec, Ger J. M. Koper Email. [email protected], [email protected] September 15, 2013 Direct link www.colloid.ch/polyelectrolytes In aqueous solutions, bases bind protons, while acids dissociate them. For weak acids and bases, these protonation reactions occur in the intermediate pH range. Dealing with monoprotic or diprotic acids and bases, the corresponding binding isoth...
متن کاملthe study of bright and surface discrete cavity solitons dynamics in saturable nonlinear media
امروزه سالیتون ها بعنوان امواج جایگزیده ای که تحت شرایط خاص بدون تغییر شکل در محیط منتشر می-شوند، زمینه مطالعات گسترده ای در حوزه اپتیک غیرخطی هستند. در این راستا توجه به پدیده پراش گسسته، که بعنوان عامل پهن شدگی باریکه نوری در آرایه ای از موجبرهای جفت شده، ظاهر می گردد، ضروری است، زیرا سالیتون های گسسته از خنثی شدن پراش گسسته در این سیستم ها بوسیله عوامل غیرخطی بوجود می آیند. گسستگی سیستم عامل...
Effects of Evolving Surface Contamination on Spacecraft Charging
The effects of evolving surface contamination on spacecraft charging have been investigated through (i) ground-based measurements of the change in electron emission properties of a conducting surface undergoing contamination and (ii) modeling of the charging of such surfaces using the NASCAP code. Specifically, we studied a Au surface as adsorbed species were removed and a very thin disordered ...
متن کاملCharging Effects in
........................................................................................................................................................................3
متن کاملLocal Electrostatic Charging of Semiconductor Thin Films
A nanocrystalline diamond (NCD) thin film (80 nm) is deposited on a p-type Si substrate and oxygen terminated by radio frequency (r.f.) oxygen plasma. An atomic force microscope (AFM) is used to induce electrostatically charged micrometer-sized areas on the diamond film by applying a bias voltage on the AFM tip during contact mode scan. Trapped charge is detected by Kelvin force microscopy (KFM...
متن کاملذخیره در منابع من
با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید
ژورنال
عنوان ژورنال: Physical Review E
سال: 2003
ISSN: 1063-651X,1095-3787
DOI: 10.1103/physreve.68.051104